اندازه گیری همزمان وانادیم (iv) و وانادیم (v) به روش اسپکتروفتومتری از طریق افزایش استاندارد نقطه h و اندازه گیری سینتیکی - کاتالیتیکی مقادیر جزئی پالادیم (ii) به روش ولتامتری با روبش خطی پتانسیل
پایان نامه
- وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه علوم پایه دامغان - دانشکده شیمی
- نویسنده مریم گل محمدی
- استاد راهنما کبری زارعی مرتضی عتباتی
- تعداد صفحات: ۱۵ صفحه ی اول
- سال انتشار 1386
چکیده
چکیده ندارد.
منابع مشابه
اندازه گیری همزمان مقادیر کم فسفات و سیلیکات به روش اسپکتروفتومتری و رگرسیون حداقل مربعات جزئی
یک روش اسپکتروفتومتری ساده، حساس و انتخابی برای اندازه گیری همزمان مقادیر کم فسفات وسیلیکات بر اساس تشکیل کمپلکسهای آبی رنگ فسفو- و سیلیکومولیبدینیوم در حضور اسکوربیک اسید شرح داده شده است. اگر چه کمپلکسهای فسفات و سیلیکات با واکنشگر، همپوشانی طیفی بالایی نشان می دهند اما آنها بطور همزمان بوسیله رگرسیون حداقل مربعات جزئی اندازه گیری شده اند. محدوده کارکرد خطی برای فسفات00/3-01/0 و برای سیلیکات0...
متن کاملاندازه گیری همزمان اسپکتروفتومتری - سینتیکی هیدرازین و استیل هیدرازین در محیط مایسلی با استفاده از روش افزایش استاندارد نقطه - H (HPSAM)
متن کامل
اندازه گیری همزمان آنتیموان (iii) و آنتیموان (v) به روش ولتامتری روبش خطی جذبی با استفاده از روش های افزایش استاندارد نقطه h و مرکز میانگین
در این پروژه، قابلیت کاربرد روش افزایش استاندارد نقطه h (hpsam) و مرکز میانگین برای داده های ولتامتری سینتیکی مورد بررسی قرار گرفته است. بدین منظور، فرایندی برای اندازه گیری آنتیموان(iii) و آنتیموان(v) به وسیله ولتامتری روبش خطی جذبی با استفاده از پیروگالول به عنوان عامل کمپلکس دهنده ارائه شده است. این روش براساس اختلاف بین سرعت تشکیل کمپلکس پیروگالول با آنتیموان(iii) و آنتیموان(v) در 2/1= ph ا...
اندازه گیری همزمان آنتیموان (iii) و آنتیموان (v) به روش ولتامتری روبش خطی جذبی با استفاده از روش های افزایش استانداد نقطه h و مرکز میانگین
چکیده ندارد.
15 صفحه اولاندازه گیری همزمان مقادیر کم فسفات و سیلیکات به روش اسپکتروفتومتری و رگرسیون حداقل مربعات جزئی
یک روش اسپکتروفتومتری ساده، حساس و انتخابی برای اندازه گیری همزمان مقادیر کم فسفات وسیلیکات بر اساس تشکیل کمپلکسهای آبی رنگ فسفو- و سیلیکومولیبدینیوم در حضور اسکوربیک اسید شرح داده شده است. اگر چه کمپلکسهای فسفات و سیلیکات با واکنشگر، همپوشانی طیفی بالایی نشان می دهند اما آنها بطور همزمان بوسیله رگرسیون حداقل مربعات جزئی اندازه گیری شده اند. محدوده کارکرد خطی برای فسفات00/3-01/0 و برای سیلیکات0...
متن کاملمنابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده{@ msg_add @}
نوع سند: پایان نامه
وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه علوم پایه دامغان - دانشکده شیمی
میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com
copyright © 2015-2023